多处理机并行计算自动测控系统

• 作者: 韩国栋
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 多处理机 并行计算 自动测控系统
• 年，卷（期）: 2006,（25）
• 所属期刊栏目: 控制系统
• 页码范围: 78-80
• 页数: 3页
• 分类号: TP316.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.25.028

摘要

介绍了多处理机系统的并行计算,在此基础上,给出了采用十刻度策略解决任务排序,采用满射策略解决任务映射的算法.最后,给出了一个自动测控系统示例,该系统不仅可以使多台处理机同时进行多种不同仪器仪表、设备的测控工作,而且处理机间的通信成本较低,加快了被测对象的测试速度,节省了测试时间.