高精度芯片测试仪的设计与实现

• 作者: 黄庆华
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 波形发生器 精密电源 测试 芯片
• 年，卷（期）: 2006,（23）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 257-259
• 页数: 3页
• 分类号: TN914.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.23.086

摘要

本文首先介绍了一种在芯片设计过程中,对芯片进行各种测试的高精度测试仪设计方案,针对应用的需求特点提出了高精度的芯片测试仪的总体设计框架,以及详细的设计原理.对设计过程中需要用到的几个模块做了详细介绍:高精度可控稳定电源设计、精密矩形波的产生等.同时,对每个模块的设计优缺点也有介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄庆华		1	3	1.0	1.0