时序电路测试向量的压缩

• 作者: 于文忠 杨士元 牛道恒
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 自动测试 时序电路 向量压缩 OCTOPUS100 ATE
• 年，卷（期）: 2006,（19）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 172-174
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.19.061

摘要

时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余.针对此问题提出一种压缩算法,减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和ATE设备的测试的时间,加速了测试的流程.实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,同时对测试序列的故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小.