VLSI设计中一种新型的功能验证方法

• 作者: 任宇 王以伍
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 功能验证 VLSI ASIC 芯片
• 年，卷（期）: 2006,（35）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 285-287
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.35.104

摘要

本文在研究了传统的VLSI设计中采用的功能验证方法后,分析了各种方法的特点和不足之处.提出了一种新型的适合于大规模集成电路功能验证的新方法,详细介绍了这种功能验证方法的度量进度机制和验证完备性判断依据,并给出了这种新方法的操作流程和关键点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王以伍	成都医学院教育技术中心	22	37	3.0	5.0
2	任宇	成都医学院教育技术中心	12	34	4.0	5.0