一种低功耗BIST测试方法

• 作者: 李金凤 汪滢 王宏
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 寄存器传输级 内建自测试 故障模型 随机抵抗性故障
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 片上系统SOC
• 页码范围: 111-113
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.08.040

摘要

通过分析RTL的代码和RTL的故障仿真可得到一组屏蔽向量,将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗.本文主要论述了利用RTL的功能信息进行低功耗BIST测试的方法,并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程.