SOC设计中的IP挑战

• 作者: 周继承 孔学东 罗宏伟 肖羽祥
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: SOC设计 IP核 重用 挑战
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 认证与标准
• 页码范围: 77-80
• 页数: 4页
• 分类号: TN302
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.11.024

摘要

IC设计正逐渐转向系统级芯片(SOC)设计,IP核是其中的重要核心部分.本文介绍了IP核的概念及交付形式,讨论了IP核相关标准、IP验证、IP的质量评估,以及知识产权的保护,并从上述几个方面分析了IP核所面临的挑战.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗宏伟		16	122	6.0	10.0
2	周继承	中南大学物理科学与技术学院	96	780	15.0	21.0
3	孔学东		16	184	6.0	13.0
4	肖羽祥	中南大学物理科学与技术学院	3	9	2.0	3.0