大斜度井中密度与中子曲线的环境及岩石物理响应研究

• 作者: A．Mendoza 张铁轩（校） 胡刚（译）
• 来源期刊: 测井与射孔
• 学科: 工学
• 关键词: 密度-中子测井仪 薄层评价 大斜度井 核测井
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 23-29
• 页数: 7页
• 分类号: TE243

摘要

在直井的复杂岩性地层中，对于核测井利用常规解释方法往往不能得到准确的孔隙度计算结果。而在大斜度井的砂岩地层中，同样的方法很可能错误评价层界面深度位置及孔隙度。 针对穿越砂泥岩薄互层的大斜度井，本文描述了一种中子和密度测井的环境及岩石物理响应系统敏感性分析。研究主要聚焦于井眼和地层界面之间的交角所产生的影响，利用普通的源一传感器结构的蒙特卡罗模拟，经由MCNP码计算得到核测井仪的原始响应。目的是定量计算复杂地层条件对核测井所产生的影响，如薄互层、井眼相对于地层的大斜度角等。此外，还定量计算了井斜角对垂直分辨率所产生的偏移。 文章特别研究了具有不同层厚的砂泥岩薄互层的情况；将大斜度井的中子密度孔隙度模拟曲线与穿越同一地层直井的中子密度孔隙度模拟曲线进行了对比分析；探讨了斜井中方位仪沿井周不同位置对垂直分辨率和层界面探测的影响；最后，展示了一口穿越饱和气砂岩地层的大斜度井的模拟实例。 研究结果表明，在穿越薄层的大斜度井中．围岩对核测井的影响是巨大的。在大斜度井中（井斜角为70°和85°）。对于上下泥岩层包围的厚度为30in的砂岩层，密度测量的垂直分辨率可以偏移10和11in；类似地，中子测量的垂直分辨率可以偏移14和16in。对于井斜角为70°的大斜度井，方位仪密度测量值的影响可使层界面探测产生2．4in的偏移量，对中子测量值的影响可达2．8in。上述结果表明，急需一种改进的解释方法，来精确评价大斜度井中层状地层的孔隙度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡刚（译）		1	0	0.0	0.0
2	张铁轩（校）		1	0	0.0	0.0