全海洋浅地层剖面仪及其应用

• 作者: 吴水根 周建平 李守军 谭勇华 顾春华
• 来源期刊: 海洋学研究
• 学科: 地球科学
• 关键词: 浅地层剖面仪 穿透率 分辨率
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报道
• 页码范围: 91-96
• 页数: 6页
• 分类号: P733.2
• 字数: 2622字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-909X.2007.02.011

摘要

全海洋浅地层剖面仪(Topographic Parametric Sonar,TOPAS)PS 018系统是目前世界上最先进的浅地层剖面仪之一.该系统是全海洋宽带非线性差频浅地层剖面仪,可对海底地层进行全方位测量,同时还兼有测量水深的功能,最大地层穿透深度为150 m,最小分辨率为0.3 m.系统多种发射信号(Ricker波、Burst波和Chirp波)的选取方便了操作者使用,从理论上实现了全海洋测量功能.从实测剖面分析,该系统是中、深水地层测量的理想测量系统.