集成电路并行测试适配器设计技术

• 作者: 侯政嘉 刘炜 吉国凡 石志刚
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 并行测试适配器 多管芯 PCB板设计
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 13-14
• 页数: 2页
• 分类号: TN4
• 字数: 1551字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2007.06.005

摘要

重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术.通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘炜		7	14	2.0	3.0
2	吉国凡		4	3	1.0	1.0
3	石志刚		3	5	1.0	2.0
4	侯政嘉		2	1	1.0	1.0