空测采样次数问题的研究

• 作者: 刘克格 张书明 阎楚良
• 来源期刊: 机械强度
• 关键词: 载荷谱 t分布理论 采样次数 对数正态分布 双参数Weibull分布
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 165-169
• 页数: 5页
• 分类号: V2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9669.2007.01.034

摘要

在定寿编谱等研究中,确定载荷谱轻重的分散遵循何种分布及科学合理地确定飞机空测采样飞行起落次数具有重要意义.文中以当量使用寿命作为判断载荷谱分散的标准,并根据t分布理论,针对载荷谱分散遵循对数正态分布和双参数Weibull分布,分别给出空测采样次数的判断标准,为飞机结构的定寿编谱研究提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阎楚良		12	171	8.0	12.0
2	张书明		8	118	6.0	8.0
3	刘克格		4	77	3.0	4.0