对瞬变电磁法回线边长决定探测深度的质疑

• 作者: 王庆乙
• 来源期刊: 物探与化探
• 学科: 地球科学
• 关键词: 探测深度 回线边长 场源频率 磁矩
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 方法技术研究
• 页码范围: 327-332
• 页数: 6页
• 分类号: P631
• 字数: 5193字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8918.2007.04.013

摘要

质疑瞬变电磁法探测深度取决于场源磁矩(M=IL2)的强度,当电源能量一定时,改变回线边长就成为控制探测深度的有效措施;认为"大回线有大深度"、"小回线探测浅"等共识是不正确的,它是不计条件应用深度公式的误导.研究认为:瞬变电磁法的探测深度取决于场源含有的低频成分,基频越低,探测越深;磁矩只是决定探测结果的信噪比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王庆乙		15	123	5.0	10.0