基于随机过程的测量仪器校准时间间隔的确定

• 作者: 田旭光 蔡金燕 陈泽峰
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测量仪器 校准周期 随机过程 误差累加模型 维纳过程模型
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 装备检测技术
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TP202+.4
• 字数: 3163字
• 语种: 中文

摘要

研究了测量仪器校准过程的随机过程模型,分析了对测量仪器在测量过程中的误差来源,确定了系统误差是影响测量仪器校准的决定性因素,给出了系统误差随时间变化的规律.利用随机过程的方法来分析系统误差的变化过程,建立了系统误差的随机过程模型--误差累加模型和维纳过程模型.最后利用电压源的测量数据对所建立的维纳过程模型进行了验证,实验证明,利用随机过程的方法分析确定测量仪器的校准时间间隔具有一定的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕	军械工程学院光学与电子工程系	144	811	13.0	18.0
2	田旭光	军械工程学院光学与电子工程系	6	48	3.0	6.0