原文服务方: 电子质量       
摘要:
本文对微型密封极化继电器的失效模式和失效机理进行了分析,对投入生产线批量生产的产品可靠性工艺控制措施进行了探讨,并通过改进工艺提高了产品的质量可靠性水平.
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内容分析
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文献信息
篇名 提高微型密封极化继电器可靠性的工艺控制措施分析
来源期刊 电子质量 学科
关键词 极化继电器 可靠性 工艺控制
年,卷(期) 2007,(5) 所属期刊栏目 理论与实践
研究方向 页码范围 40-45
页数 6页 分类号 TM58
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.05.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李传龙 中国电子科技集团公司第四十研究所 3 3 1.0 1.0
2 徐学华 中国电子科技集团公司第四十研究所 5 4 1.0 2.0
传播情况
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1998(1)
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
极化继电器
可靠性
工艺控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
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