基于静电力显微镜的绝缘体表面电荷微纳米尺度测量系统

• 作者: 王秀凤 赵慧斌 韩立
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 扫描探针显微镜 SPM 绝缘材料 表面电荷测量
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 分析与测试
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TM934.3|TH742.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.02.022

摘要

基于静电力显微镜(EFM)设计了一套在微纳米尺度下观察研究电介质表面电荷的系统.该系统设有温度和湿度调节系统,可实现不同气体环境,并可模拟紫外照射功能.该系统为电介质表面电荷的研究提供了一种新的手段,为从微观尺度解释表面电荷的生成和行为特性提供了新的途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王秀凤	清华大学物理系	14	92	7.0	9.0
2	韩立	中国科学院电工研究所	98	376	9.0	13.0
3	赵慧斌	中国科学院电工研究所	12	353	8.0	12.0