XRF法快速测定铁钛精矿中的Fe、Ti品位

• 作者: 程锋 葛良全 赖万昌 郭生良
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线荧光分析 基体效应 铁钛精矿
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 放射性方法
• 页码范围: 436-438
• 页数: 3页
• 分类号: P575.5
• 字数: 2673字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2007.05.014

摘要

介绍了XRF法(X射线荧光)在快速测定铁钛精矿样中Fe、Ti品位中的应用,用IED2000P型快速X荧光分析仪,分析目标元素特征X射线计数率与含量的关系,主要研究了基体效应对测量结果的影响.通过比较,选用特散比与经验系数法相结合做三元回归计算的数理模型,可较好地校正基体效应,其分析结果相对误差在0.2%以内,达到了实际生产的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	赖万昌	成都理工大学核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
3	程锋	成都理工大学核技术与自动化工程学院	25	129	7.0	9.0
4	郭生良	成都理工大学核技术与自动化工程学院	6	33	4.0	5.0