表面活性剂浓度对介孔二氧化硅形貌的影响

• 作者: 党文修 韩书华
• 来源期刊: 济南大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: 介孔材料 形貌 表面活性剂 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 93-93
• 页数: 1页
• 分类号: O613.72
• 字数: 363字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-3559.2007.01.026

摘要

以十六烷基氯化吡啶(C16PyCl)为模板剂,正硅酸四乙酯(TEOS)为硅前驱体,甲酰胺为助溶剂,在酸性条件下合成了不同形状的纳米介孔二氧化硅,并使用扫描电镜(SEM)、小角X射线衍射(SXRD)和N2气体吸附技术对其进行了表征.结果表明合成样品具有MCM-41的有序六方孔道结构,煅烧样品的吸附测量显示典型的IV型吸附等温线和H1型滞后环,孔径分布较窄.随着C16PyCl浓度的增加,产物形貌由不规则的螺旋球逐渐过渡到表面光洁的多面体形状.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩书华	山东大学胶体与界面化学教育部重点实验室	28	287	9.0	16.0
2	党文修		18	67	6.0	7.0