衰减纽扣的研制及其电磁性能的研究

• 作者: 孙爱民 张云贺 田志英
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 衰减纽扣 介电常数ε 介电损耗tgδ
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 陶瓷-金属封接与真空开关管用管壳技术进步专辑
• 页码范围: 67-69
• 页数: 3页
• 分类号: TN104
• 字数: 2069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2007.04.020

摘要

在原有工艺基础上,制备出了性能相对稳定的、能满足使用方要求的衰减纽扣.通过调整衰减相含量来调整材料的介电常数ε和介电损耗tgδ值.在此基础上,初步探索了衰减相含量与介电性能间的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田志英		8	13	2.0	2.0
2	张云贺		2	7	2.0	2.0
3	孙爱民		2	3	1.0	1.0