应用数字图像相关方法测量含缺陷试样的全场变形

• 作者: 戴福隆 潘兵 续伯钦 谢惠民
• 来源期刊: 实验力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 数字图像相关 最小二乘拟合 应变
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 页码范围: 379-384
• 页数: 6页
• 分类号: O348
• 字数: 3160字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4888.2007.03.023

摘要

利用数字图像相关方法测量表面带孔洞、裂纹、缺口等缺陷试样的全场变形是许多实际测量任务中经常遇到的问题.就此问题,本文阐述了一种先对要避免计算的缺陷区域进行标记,在随后进行的相关计算中直接避免这些标记区域的方法.在已计算得到全场位移的情况下,文中提出了基于局部位移场最小二乘拟合的方法来计算区域边界、孔洞、裂纹或缺口附近等区域应变.最后对单侧边带半圆缺口试样的单向疲劳拉伸实验的计算结果充分显示本文方法的有效性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	续伯钦	中国科学技术大学力学与机械工程系	17	744	11.0	17.0
2	戴福隆	清华大学工程力学系破坏力学教育部重点实验室	70	817	11.0	27.0
3	谢惠民	清华大学工程力学系破坏力学教育部重点实验室	59	1120	14.0	32.0
4	潘兵	清华大学工程力学系破坏力学教育部重点实验室	12	735	9.0	12.0