关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论

• 作者: 徐滨士 王丹 董世运 董丽虹
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 金属磁记忆检测 背景磁场 通道补偿法
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 71-73,99
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2367字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2007.02.004

摘要

通过具体试验,对当前金属磁记忆检测中普遍采用的利用通道补偿的背景磁场抑制方法进行了验证.结果发现通道补偿法并不能真正去除背景磁场对金属磁记忆检测的影响;同时,进一步对背景磁场对金属磁记忆检测的影响进行了分析,指出了相关的影响因素,并提出利用有限元分析消除背景磁场对金属磁记忆检测的影响的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐滨士	装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室	584	10713	46.0	73.0
2	王丹	装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室	8	236	7.0	8.0
3	董世运	装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室	166	3311	30.0	51.0
4	董丽虹	装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室	38	531	12.0	22.0