银金属氧化物触点材料电气性能研究

• 作者: 堵永国 张为军 胡君遂
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 银金属氧化物(AgMeO) 触点材料 电气性能
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究·分析·实验
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: TM2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-8887.2007.01.001

摘要

以粉末冶金法制备的AgCdO(10)、AgSnO2(10)、AgYb2O3(12)三种银金属氧化物触点材料为研究对象,在DC 20 V、20 A,纯阻性负载条件下,研究其电气性能,包括接触电阻、熔焊力与材料转移.采用SEM观察触点表面经电弧侵蚀后结构与成分的变化,分析触点对电弧响应的物理冶金过程.结果表明,经过15万次接通与开断后,AgYb2O3(12)触点表面结构与成分稳定,而AgCdO(10)与AgSnO2(10)触点表面存在孔洞与裂纹;在相同负载条件下,AgYb2O3(12)的综合电气性能优于AgCdO(10)和AgSnO2(10)触点材料.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	堵永国	国防科技大学航天与材料工程学院	70	786	15.0	24.0
2	张为军	国防科技大学航天与材料工程学院	51	571	14.0	22.0
3	胡君遂	国防科技大学航天与材料工程学院	25	277	9.0	16.0