基于CCD的校验仪透光镜厚度精确测量研究

• 作者: 王超
• 来源期刊: 上海计量测试
• 学科: 工学
• 关键词: 线阵CCD 校验仪 折射率 测量
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 10-12
• 页数: 3页
• 分类号: TH74
• 字数: 1870字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2235.2007.04.003

摘要

本文提出了一种利用线阵CCD传感器作为接收装置,以8253编程芯片实现自动测量并实时显示测量结果的校验仪透光镜厚度测量系统.文中主要论述了该系统的工作原理和软硬件的实现途径,并分析了系统的测量误差;文章最后列出了实测数据,证明了系统的可行性和先进性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王超		16	110	4.0	10.0