发光二极管引线键合可靠性探讨

• 作者: 蔡伟智
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 发光二极管 引线键合 工艺参数 可靠性 芯片
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TN312
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.04.013

摘要

本文简要地描述发光二极管金丝引线键合过程,讨论分析了影响其键合可靠性的主要因素,说明了键合质量的评价方法,提出了增强键合可靠性的措施,以达到提高发光二极管寿命的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0