直流盘形悬式绝缘子离子迁移测试系统的研究

• 作者: 刘志强 危鹏 张源斌 朱海涛 胡文岐
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 直流悬式绝缘子 离子迁移 试验测量系统 51系列单片机
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TM216
• 字数: 2430字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8337.2007.02.003

摘要

对直流盘形悬式绝缘子离子迁移过程进行了分析,认为离子迁移微观上表现为绝缘子内部某些金属正离子和自由电子的定向迁移.直流绝缘子离子迁移试验测量系统采用51系列单片机及其保护系统,运用C++ Builder计算机语言设计了一套实用软件,实现了离子迁移试验的自动控制、测量及52路微电流、52路体电阻、累积电荷的在线监测和相应的数据处理,提高了直流绝缘子离子迁移试验的准确度和工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	危鹏		5	47	3.0	5.0
2	张源斌		20	316	10.0	17.0
3	胡文岐		1	2	1.0	1.0
4	刘志强		5	16	3.0	3.0
5	朱海涛		2	3	1.0	1.0