一种高速ADC静态参数的内建自测试结构

• 作者: 何怡刚 刘美容 朱彦卿 阳辉
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 码密度直方图 内建自测试 ADC测试
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: TN79+2
• 语种: 中文

摘要

针对混合信号电路的测试问题,提出了一种内建自测试(BIST)结构,分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(ADC)的静态参数.该方法利用三角波信号作为测试激励,采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静态参数.根据改进测试算法所构造的BIST结构实现了芯片内只有ADC电路的可测性设计,而不需要用到片内集成DSP.内嵌的信号发生器能自动生成高频连续三角波测试信号,适合高速ADC的测试.该BIST结构硬件开销小,易于片上集成,仿真试验表明了该结构的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	阳辉	湖南大学电气与信息工程学院	22	131	8.0	10.0
3	刘美容	湖南大学电气与信息工程学院	19	291	8.0	17.0
4	朱彦卿	湖南大学电气与信息工程学院	22	358	10.0	18.0