典型绝缘缺陷的直流局部放电信号波形分析

• 作者: 吴广宁 张血琴 李晓华 边姗姗
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 直流 局部放电 缺陷 频谱分析 波形
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 分析与测试
• 页码范围: 58-60,63
• 页数: 4页
• 分类号: TM835
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2007.03.018

摘要

直流局部放电测试是高压直流设备绝缘性能状态评估的主要手段之一.为掌握直流下局部放电波形的特性,对内部、表面、电晕3种典型缺陷的直流局部放电波形进行测试与分析.内部缺陷受放电电荷的反电场影响,在直流平稳区不能持续发生,断电后会出现反极性放电;表面放电与电晕放电均能在直流电压下稳定产生,却不能在断电后出现.分析直流电压下局部放电信号,3种放电脉冲的持续时间均有不同,且放电波形易叠加振荡.比较缺陷放电信号的频谱分析结果,3种放电的能量分别位于不同的区间,为直流下缺陷类型的识别奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	李晓华	西南交通大学电气工程学院	12	73	5.0	8.0
3	张血琴	西南交通大学电气工程学院	49	680	12.0	26.0
4	边姗姗	西南交通大学电气工程学院	15	110	6.0	10.0