数字下变频器HSP50216原理及测试模式的使用

• 作者: 罗亚松 高俊
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试模式 数字下变频器 软件无线电
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与没备
• 页码范围: 170-173
• 页数: 4页
• 分类号: TN773
• 字数: 3329字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2007.02.020

摘要

通过对数字下变频器HSP50216内部结构、工作原理及性能特点的介绍,给出了其在下变频处理中的应用.另外,该芯片配有一个测试模式,它通常用来进行芯片检测.给出了利用测试模式来使HSP50216完成数字化激励器中基带处理功能的另外一种应用.实践证明这种方法是可行的,提高了对测试模式使用的灵活性,并以此扩展了HSP50216的功能,满足更多情况的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗亚松		26	141	8.0	10.0
2	高俊		151	690	12.0	17.0