单片微控制器系统的静电放电敏感性研究

• 作者: 刘尚合 宋学君 张希军
• 来源期刊: 河北大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 单片机系统 静电放电 电磁脉冲敏感性
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 630-633
• 页数: 4页
• 分类号: O441
• 字数: 2474字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1565.2007.06.016

摘要

分别以2种常用的微控制器芯片80C196和AT89C51为核心设计的2种单片微控制器系统做为目标测试板,利用静电放电电磁脉冲分别对这2种系统进行静电放电效应实验研究,并对其失效机理进行分析.实验结果表明, 80C196单片微控制器系统对静电放电比89C51单片微控制器系统敏感,单片机系统在静电放电电磁脉冲作用下出现死机、跳转、重启动、RAM内容改写等功能失效现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘尚合	军械工程学院静电与电磁防护研究所	203	2590	23.0	39.0
2	宋学君	军械工程学院静电与电磁防护研究所	11	51	4.0	7.0
4	张希军	军械工程学院静电与电磁防护研究所	50	393	12.0	17.0