气溶胶样品氢含量的质子弹性散射分析

• 作者: 朱光华 王广甫 鲁永芳
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 质子弹性散射分析 气溶胶 H含量 探测限
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 219-222
• 页数: 4页
• 分类号: O648.18
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.02.019

摘要

利用单个标准样品比较法质子弹性散射分析(PESA)对一组采集在核孔膜上的气溶胶样品的氢含量进行定量分析.在质子束能量为2.5 MeV、散射角为40°时,PESA测量10 μm厚核孔膜上气溶胶中H含量的探测限为0.36 μg/cm2.几个样品H含量的测量结果在3.2～37.5 μg/cm2之间,显著高于探测限.质子能量在1.0～2.5 MeV范围内,3.5 μm Mylar膜的束流归一化H峰面积随入射质子能量的变化在±3%以内.所以,不同厚度的气溶胶样品可采用同一个标准样品来进行PESA测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王广甫		45	220	7.0	13.0
2	鲁永芳		8	27	3.0	5.0
3	朱光华		19	216	6.0	14.0