ICP-AES测定纯三氧化钼和钼酸铵中痕量元素

• 作者: 汤志勇 赵勇 郑洪涛 金泽祥 黄晓胜
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: 钼 痕量元素 电感耦合等离子体发射光谱法
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 23-24
• 页数: 2页
• 分类号: TG146.4
• 字数: 1311字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2007.02.007

摘要

提出了ICP-AES测定纯三氧化钼和钼酸铵粉末样品中Al、Bi、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Si、Ti和W等11种痕量元素的分析方法.比较了不同样品消解方法的效果,采用基体匹配法补偿钼基体对痕量元素测定产生的基体效应.方法简便、快速,测定精密度为2.8%～7.6%,回收率为96%～105%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤志勇	中国地质大学材料科学与化学工程学院	101	818	14.0	21.0
2	金泽祥	中国地质大学材料科学与化学工程学院	33	430	11.0	20.0
3	郑洪涛	中国地质大学材料科学与化学工程学院	19	133	6.0	10.0
4	黄晓胜		1	5	1.0	1.0
5	赵勇		1	5	1.0	1.0