Pd掺杂SnO2纳米结构传感器制备与氢敏性能研究

• 作者: 凌云汉 吴晓萌 廖俊生 智欣 朱小珊 白新德
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 雾化热解 多孔SnO2 Pd掺杂 氢敏测试
• 年，卷（期）: 2007,（z1）
• 所属期刊栏目: 结构材料及核材料性能
• 页码范围: 431-435
• 页数: 5页
• 分类号: O614.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.z1.026

摘要

以SnCl4·5H2O和PdCl2为原料,通过雾化热解方法制备原位Pd掺杂SnO2多孔纳米结构粉体,并通过涂覆形成薄膜传感器.利用XRD、FE-SEM对样品的结构和形貌进行表征,通过BET测定样品的孔径分布及比表面积.氢敏测试结果表明,Pd掺杂的SnO2薄膜气敏材料在低于150℃的操作温度下对质量浓度为10-4量级的H2显示出良好的气敏响应特性,这可能归因于粉体的多孔结构和Pd掺杂剂的催化效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖俊生		22	149	5.0	12.0
2	凌云汉	清华大学材料系	28	231	8.0	14.0
3	吴晓萌	清华大学材料系	1	1	1.0	1.0
4	朱小珊	清华大学材料系	1	1	1.0	1.0
5	智欣	清华大学材料系	1	1	1.0	1.0
6	白新德		1	1	1.0	1.0