电子元器件失效分析方法和技术

• 作者: 张星
• 来源期刊: 长岭技术
• 学科: 工学
• 关键词: 失效分析 失效机理 失效模式
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 40-45
• 页数: 6页
• 分类号: TN6

摘要

失效分析是电子元器件质量和可靠性保证体系的重要组成部分。本文叙述了电子元器件的主要失效机理和失效分析的方法，由于电子元器件种类很多、失效分析方法各异，开展失效分析工作需要同时具备常用的失效分析方法和各种电子元器件的主要失效机理的知识。了解了这些知识，失效分析可根据失效现场情况，推测电子元器件可能的失效机理，选择适当失效分析方法，快速准确地进行失效分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张星	长岭电子科技公司产品检验处	1	0	0.0	0.0