基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计

• 作者: 蒋全兴 雷震
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 衬垫转移阻抗 电路模型 遗传算法 多目标优化
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 69-72,112
• 页数: 5页
• 分类号: TB973
• 字数: 3245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2007.01.014

摘要

提出了一种新的基于遗传算法的宽带电磁干扰(EMI)衬垫转移阻抗(TI)测试装置优化设计方法,获得了宽频带(0～2 GHz)下的等效电路.以测试装置结构所决定的分布参数(L、C1、C2)为优化对象,以输入阻抗为优化目标,建立了衬垫测试系统的目标函数;优化前后输入阻抗理论值比较表明:采用优化的测试装置进行测试,输入阻抗误差显著减小,并且这一结论在通常意义下都有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋全兴	东南大学机械工程系电磁兼容研究所	92	702	14.0	21.0
2	雷震	东南大学机械工程系电磁兼容研究所	9	24	3.0	4.0