一种高灵敏度X射线密度测量技术

• 作者: 戴振麟 葛良全 赖万昌 邹德慧
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 密度仪 FP法 软件设计
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 954-957
• 页数: 4页
• 分类号: TH715.2
• 字数: 2185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2007.05.036

摘要

介绍了一种高灵敏度X射线密度测量的基本原理以及基于此原理研制的X射线密度仪.采用FP法迭代计算出被测物质中各元素的含量,再由密度公式算出该物质的密度.该密度仪的软件部分用C语言编写,人机交互界面友好,初步应用表明其稳定性较好、灵敏度高,测得饱和厚度合金样的密度与其理论计算值相吻合,此X射线密度仪有很好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	邹德慧	成都理工大学核技术与自动化工程学院	5	44	2.0	5.0
3	赖万昌	成都理工大学核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
4	戴振麟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	53	4.0	7.0