一种恒电长度干涉仪分析的新方法

• 作者: 陈俊华 黄柳桃
• 来源期刊: 航天电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 恒电长度干涉仪 对数周期天线 相位扫频测试
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 电子战技术
• 页码范围: 44-46
• 页数: 3页
• 分类号: TN820.1+5|TN97
• 字数: 2512字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2421.2007.04.014

摘要

对数周期天线的相位中心随频率呈线性变化,用2个对数周期天线可以构成具有恒电特性的干涉仪天线阵,在工程应用中,天线相位中心较大的测试误差会导致天线阵调试困难.通过对恒电长度干涉仪的分析,提出了利用相位扫频测试对天线阵进行调试分析的方法,避免了繁杂的相位中心测试,简化了天线阵的调试过程,测试数据可直接用于系统校正.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈俊华		1	2	1.0	1.0
2	黄柳桃		1	2	1.0	1.0