大光轴倾角的偏光干涉测量方法

• 作者: 方涛 李卫涛 沈为民 王育红
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 单轴晶体 锥光干涉图 光轴倾角
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 114-117
• 页数: 4页
• 分类号: TB96
• 字数: 3557字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2007.02.005

摘要

针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点,提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角.将条纹数分为整数部分和小数部分,用非线性插值方法求解小数部分,用主截面内干涉条纹的相对位置决定整数部分.对6块铌酸锂晶体在不同单色光源、不同数值孔径下进行测量,结果相当一致.实验表明,光轴倾角的测量范围可有效拓宽,而测量误差可减小到0.1°.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈为民	中国计量学院光电信息工程系	74	383	10.0	14.0
2	李卫涛	中国计量学院光电信息工程系	4	19	3.0	4.0
3	王育红	中国计量学院光电信息工程系	6	36	3.0	6.0
4	方涛	中国计量学院光电信息工程系	5	33	3.0	5.0