数字集成电路测试矢量的生成

• 作者: 刘伟
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 随机测试序列 硬件描述语言Verilog 同余伪随机序列 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 18-20,48
• 页数: 4页
• 分类号: TN431.2
• 字数: 1806字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.04.005

摘要

电路的日益复杂和集成度的不断提高,使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节.文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而大大提高了故障的覆盖率.最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟		1	2	1.0	1.0