一台HPGe谱仪的效率刻度和符合因子测定

• 作者: 罗江华 苏琼 马玉圣 高正
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: HPGe γ谱仪 效率刻度 效率比曲线 符合修正因子
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 737-739,744
• 页数: 4页
• 分类号: TL81
• 字数: 2259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2007.04.031

摘要

采用远近效率比较法在59.5 kdV～3253 keV的能量范围内刻度了一台HPGe γ谱仪.选用137Cs、113Sn、109Cd三个核素拟合远近效率比曲线,给出了谱仪远位和端面的效率能量函数,计算了端面测量状态时符合相加修正因子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏琼	清华大学工程物理系	9	44	4.0	6.0
2	高正		7	9	2.0	2.0
3	马玉圣		3	7	2.0	2.0
4	罗江华		4	6	1.0	2.0