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书讯:《集成电路生产的优化调度——理论模型、算法与系统仿真》
书讯:《集成电路生产的优化调度——理论模型、算法与系统仿真》
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摘要：
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CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
开关电流
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模拟集成电路多目标遗传算法优化设计
模拟集成电路
设计自动化
电路多目标优化
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集成电路可靠性预计模型及其参数
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期刊影响力
系统仿真技术
主办单位：
同济大学
出版周期：
季刊
ISSN：
1673-1964
CN：
31-1945/TP
开本：
大16开
出版地：
上海市四平路1239号同济大学242信箱
邮发代号：
创刊时间：
2005
语种：
chi
出版文献量（篇）
971
总下载数（次）
6
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