3σ方法在磁记忆检测中的应用

• 作者: 孙国豪 李光霁 潘家祯
• 来源期刊: 华东理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 磁记忆检测 漏磁场 3σ理论
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 726-732
• 页数: 7页
• 分类号: TH878.3
• 字数: 4077字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-3080.2007.05.029

摘要

通过对带有已知预制裂纹试块的检测曲线进行分析,提出了一种评定应力集中的方法--3σ方法.如果x服从正态分布,式μ=x±3σ具有概率含义:测定结果x落在(μ-3σ,μ+3σ)区间的概率为99.73%,概率不随σ的改变而改变.如果磁场强度变化曲线在(|μ-3σ |,+∞)内,就认为此部位有应力集中.3σ方法更加符合统计学规律,对缺陷的判断也更符合实际情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘家祯	华东理工大学机械与动力工程学院	102	1019	18.0	26.0
2	李光霁	华东理工大学机械与动力工程学院	8	48	4.0	6.0
3	孙国豪	华东理工大学机械与动力工程学院	5	36	3.0	5.0