基于红外热像仪的涂层波段发射率测量

• 作者: 成绍军 才鸿年 曹义 程海峰 郑文伟
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外 热像仪 发射率
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 316-319
• 页数: 4页
• 分类号: TN976
• 字数: 3305字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.06.002

摘要

简要介绍了红外热像仪测量涂层发射率的原理,详细介绍了基于红外热像仪的涂层波段发射率测量装置设计与测试方法,实际测试发射率0.708～0.920之间的4个标准样品,误差均不大于2.06%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑文伟	国防科技大学航天与材料工程学院重点实验室	84	1014	18.0	27.0
2	程海峰	国防科技大学航天与材料工程学院重点实验室	109	1599	24.0	33.0
3	曹义	国防科技大学航天与材料工程学院重点实验室	23	329	11.0	17.0
4	才鸿年	国防科技大学航天与材料工程学院重点实验室	6	101	4.0	6.0
8	成绍军	国防科技大学航天与材料工程学院重点实验室	2	37	2.0	2.0