基于STM/AFM技术的信息存储材料研究现状及进展

• 作者: 丁建宁 凌智勇 宋向前
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描探针显微镜 超高密度信息存储 存储材料
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 真空应用
• 页码范围: 51-54
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 3105字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0322.2007.01.013

摘要

信息技术的发展要求存储器件必须具备超高存储密度、超快的存取速率,因而能在纳米尺度上实现信息存储功能的新型超高密度信息存储材料已经成为信息技术领域的研究热点.简要地介绍了近年来利用扫描隧道显微镜/原子力显微镜(STM/AFM)实现信息写入的纳米信息存储材料的研究进展,并进一步列举了尚待解决的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌智勇	江苏大学微纳米科技研究中心	54	400	12.0	17.0
2	丁建宁	江苏大学微纳米科技研究中心	146	769	14.0	19.0
3	宋向前	江苏大学微纳米科技研究中心	4	11	2.0	3.0