面向国际市场的测量工具

• 来源期刊: 经济导报：汽车工业
• 学科: 工学
• 关键词: 测量工具 国际市场 X射线探测 断层摄影 国际标准
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TH821

摘要

国际标准对X射线探测及计箅断层摄影（CT）系统的需求日益增长。