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摘要:
文章主要对一种常规的小规模STN-LCD驱动电路在使用过程中出现的可靠性失效问题进行分析和讨论,对在干扰环境中工作的集成电路的芯片级的抗干扰和可靠性设计提出了一些建议及总结.在实际分析过程中,采用模拟再现实际使用环境进行实验等方式,对电路出现的失效现象进行再现和定位.通过对失效结构的设计线路和失效机理的分析,对具体引起失效的上电复位结构和通信端口结构进行了设计改进.目前,经过实际流片和测试,改进方案通过了验证.
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文献信息
篇名 一种STN-LCD驱动电路的可靠性分析与设计
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 STN-LCD 抗干扰性 上电复位结构 通信端口结构
年,卷(期) 2007,(11) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 23-26,44
页数 5页 分类号 TN402
字数 3696字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.11.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴金 47 437 13.0 19.0
2 刘明峰 中国电子科技集团公司第五十八研究所 6 20 3.0 4.0
3 苏郁秋 中国电子科技集团公司第五十八研究所 3 4 1.0 1.0
4 蒋红利 中国电子科技集团公司第五十八研究所 3 28 2.0 3.0
8 饶喜冰 中国电子科技集团公司第五十八研究所 1 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
STN-LCD
抗干扰性
上电复位结构
通信端口结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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