自动测试系统自检适配器自动设计技术

• 作者: 孙宝江 李晓白 沈士团 秦红磊
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试 自动测试系统 自检适配器 自动设计 可交换虚拟仪器(IVI)
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 288-294
• 页数: 7页
• 分类号: TP274
• 字数: 4014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2007.04.002

摘要

采用面向信号方法建立仪器模型、开关模型,对系统所有仪器端口进行自动最优匹配,与相应开关构成自检回路,并实现自检回路自动布线. 依据IVI(Interchangeable Virtual Instrument)-Signal Interface 标准自动编写自检程序,较大地提高了设计效率和标准化程度. 以某机载通讯设备自动测试系统为例,采用该技术可缩短 ATS 自检适配器开发周期至原来的 1/3,显著降低了开发成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙宝江	北京航空航天大学电子信息工程学院	9	111	5.0	9.0
3	秦红磊	北京航空航天大学电子信息工程学院	94	528	11.0	18.0
4	沈士团	北京航空航天大学电子信息工程学院	37	196	9.0	13.0
5	李晓白	北京航空航天大学电子信息工程学院	25	190	8.0	13.0