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摘要:
为了提高激光扫描测径技术的测量精度和测量稳定性,在研究了传统的激光扫描法测径的原理和算法后,提出了一种激光扫描测径的新算法.新算法充分利用了扫描光路的几何关系和数值计算技术.在产品生产过程中,新算法的应用提高了测量精度,降低了产品成本.
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激光扫描
测径
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FPGA
扫描
激光测径
MCU软核
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 扫描式激光测径技术的算法新探
来源期刊 无损检测 学科 工学
关键词 管径测量 激光扫描 平场透镜 算法研究
年,卷(期) 2007,(7) 所属期刊栏目 科研成果与学术交流
研究方向 页码范围 386-388
页数 3页 分类号 TG115.28
字数 2293字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-6656.2007.07.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李新秋 清华大学核能与新能源研究所 9 38 3.0 6.0
2 陶雷 清华大学核能与新能源研究所 1 15 1.0 1.0
3 张力生 清华大学核能与新能源研究所 4 30 3.0 4.0
传播情况
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2020(3)
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  • 二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
管径测量
激光扫描
平场透镜
算法研究
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无损检测
月刊
1000-6656
31-1335/TG
大16开
上海市邯郸路99号
4-237
1978
chi
出版文献量(篇)
4436
总下载数(次)
11
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