质子非卢瑟福背散射测量气溶胶样品中氢、碳、氮和氧的含量

• 作者: 朱光华 王广甫 鲁永芳
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 质子 非卢瑟福背散射 气溶胶 H、C、N和O含量
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 628-632
• 页数: 5页
• 分类号: O613|O657.63
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.05.025

摘要

气溶胶样品中Z＞12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一.为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量.测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析结果相近,表明PNBS可用于核孔膜采集的气溶胶样品的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王广甫	北京师范大学分析测试中心	45	220	7.0	13.0
2	鲁永芳	北京师范大学低能物理研究院	8	27	3.0	5.0
3	朱光华	北京师范大学低能物理研究院	19	216	6.0	14.0