中子辐照导致线阵电荷耦合器件电荷转移效率退化实验研究

• 作者: 刘敏波 唐本奇 张勇 李君利 王祖军 肖志刚 黄绍艳
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 线阵电荷耦合器件 中子辐照 电荷转移效率
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 117-120
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.01.024

摘要

利用TRIGA型脉冲反应堆提供的快中子,对线阵电荷耦合器件进行中子辐照实验研究.研究结果表明:在1012～1013 cm-2中子注量范围内,该器件的电荷转移效率(CTE)随辐照中子注量的增加而线性下降;电荷转移效率的下降与电荷包在沟道中的转移时间及转移电荷包的电量有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李君利	清华大学工程物理系	75	377	9.0	15.0
2	唐本奇		32	248	9.0	13.0
3	王祖军		22	178	7.0	12.0
4	刘敏波		22	147	8.0	10.0
5	肖志刚		29	227	8.0	13.0
7	张勇		23	200	8.0	12.0
8	黄绍艳		27	220	8.0	13.0