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摘要:
红外焦平面阵列(IRFPA)是红外系统的关键部件,其非均匀性是制约红外系统成像质量的限制性因素.对基于标定的IRFPA非均匀性校正算法进行了原理探讨,阐述了两点校正法、基于埃尔米特插值算法、基于多项式拟合以及最佳平方逼近等几种目前正在研究的标定类非均匀性校正技术.
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内容分析
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文献信息
篇名 基于标定的IRFPA非均匀性校正方法综述
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 红外焦平面阵列 非均匀性校正 两点校正法 埃尔米特插值 多项式拟合 最佳平方逼近
年,卷(期) 2007,(10) 所属期刊栏目 综述与评价
研究方向 页码范围 589-592
页数 4页 分类号 TN216
字数 3387字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.10.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蔡盛 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 11 94 5.0 9.0
5 乔彦峰 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 112 1052 16.0 25.0
6 柏旭光 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 6 125 5.0 6.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
红外焦平面阵列
非均匀性校正
两点校正法
埃尔米特插值
多项式拟合
最佳平方逼近
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
论文1v1指导