铜钴矿样品X荧光快速测定技术的初步研究

• 作者: 姜海静 张庆贤 曾兵 林延畅 王广西 程锋 葛良全 赖万昌
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光分析 铜钴矿石 基体效应 精确度
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 地球化学
• 页码范围: 256-259
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2727字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2007.03.018

摘要

使用基于Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X荧光(XRF)分析仪,对采自刚果(金)的铜钴矿样品进行测量.通过对实测数据的处理与分析,分含量段建立目标元素的工作曲线,同时求出相应的基体效应校正模型,并编制到仪器内置X荧光分析应用软件中.实现仪器根据实测多道微分谱线中相关元素的特征X射线计数率,自动切换工作曲线与基体效应修正模型,快速输出Cu和Co的含量的测定结果.通过与化学分析结果比较,快速测定结果精确度较高.