TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的自测试设计

• 作者: 李博 王继红 魏廷存
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜晶体管液晶显示器 内置SRAM 内建自测试 移位链
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 891-893,903
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3243字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2007.10.017

摘要

针对单片集成TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的特点,提出了一种将内建自测试与机台测试相结合的SRAM测试方案.测试向量由机台提供,测试过程中启动内部自测试电路.在SRAM的读出寄存器和写入寄存器之间建立一条通路,测试向量通过这条通路在SRAM单元之间传递,形成了一个长的移位链,读出数据送给比较器检测.与传统自测试结构相比,该方案面积开销小,灵活性高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李博	西北工业大学航空微电子中心	80	345	10.0	13.0
2	魏廷存	西北工业大学航空微电子中心	70	333	11.0	13.0
3	王继红	西北工业大学软件与微电子学院	2	13	1.0	2.0